(LED)瞬态热阻测试仪 Thermal Transient Tester

创建时间:  2017-09-29     浏览次数:


型号:T3Ster

购入时间:2011.9

制造厂商:Mentor Graphics

安置地点:平板显示楼

所在单位:新型显示技术及应用集成教育部重点实验室

联系人:殷录桥

联系电话:021-56333362

是否共享(是/否):是

仪器简介:

该设备具有以下功能:

T3Ster运用先进的JEDEC静态试验方法(JESD51-1),通过改变电子器件的的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,T3Ster测试出芯片的瞬态温度响应曲线,仅在几分钟之内即可分析得到关于该电子器件的全面的热特性,包括结温、热阻、界面热阻特性等热学参数。

主要技术指标:

1加热电压:测量范围:5~50V,不确定度:±1%;

2加热电流:测量范围:0.1~20A,不确定度:±1%;

3加热电压测量精度:读数±(0.2%+0.1)V

4加热电流测量精度:读数±1%;

5加热功率脉宽:1ms~15min;

6温度测量精度:±0.01°C;

7节温测量最小延时:1 μs;

8热阻:测量范围:0.02~1000℃/W;不确定度小于±1%。

应用范围:半导体器件、LED光电器件等热学分析、测试,具体包括:测试该器件的热阻、结温、同一封装器件不同封装材料的热阻(积分、微分曲线结构函数等)。

收费标准:电话联系





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