扫描电子显微镜用于测量薄膜的表面状况,本仪器的主要特点是:
1.多种测量模式:Contact AFM(接触式原子力显微镜);DFM(动态力模式);Phase Mode (相位模式)
2. FFM (摩擦力模式);MFM(磁力模式);Vector Scan (向量扫描,纳米刻蚀)
3. KFM (表面电位势测量);EFM(表面静电力);AFM-CITS(电流隧道谱-IV测量)
2.表面形貌分辨能力:XY: 0.2nm, Z: 0.01nm
5.最大扫描范围:20×20μm;100×100μm
6.样品台平移范围:X,Y方向±5mm;精度:250μm。